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BeNano180ZetaMax纳米粒度及Zeta电位分析仪

产品简介

BeNano180ZetaMax纳米粒度及Zeta电位分析仪是丹东百特仪器有限公司,新推出的表征纳米体系特性的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术,可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒物浓度等参数,可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究、质量分析和质

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更新时间:2026-08-27
厂商性质:代理商
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产品介绍

BeNano180ZetaMax纳米粒度及Zeta电位分析仪是丹东百特仪器有限公司,新推出的表征纳米体系特性的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术,可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒物浓度等参数,可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究、质量分析和质量控制。

BeNano180ZetaMax纳米粒度及Zeta电位分析仪基本性能指标


1、粒径检测(动态光散射法)

  粒径范围  0.3 nm - 15 μm*
  样品量  最小3μL,常规1ml(可订制其它容量)* 
  检测角度  173°+90°+11.2°(可对应高浓度粒度和低浓度粒度)
  样品浓度  ≤40%(W/V)*
  粒径算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS 

2、Zate电位测试

  Zeta范围  无实际限制
  原理 相位分析光散射PALS
  电泳迁移率范围 > ±20 μ.cm/V.s
  电导率范围  0 - ≥270 mS/cm *
  Zeta测试粒径范围  1 nm – >120 μm * 

3、沉降法粒度测试

  粒径范围  1 μm - 50 μm *
  检测角度  0°(PD检测器)
  样品量  1 – 3 ml 

4、分子量测试

  分子量范围  342 Da – 2 x 107 Da *

5、微流变测试

  测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量、复数粘度

6、趋势测试

  温度趋势  粒度与Zeta电位随温度变化趋势,自动检测温度转变点Tm
  时间趋势  粒度与Zeta电位随时间的变化趋势
  pH值趋势  粒度与Zeta电位随pH值的变化趋势 *

7、浓度检测

  检测方法  LEDLS
  测试能力  体积分数和数量浓度

8、折射率测试

  折射率范围与精度  1.2 - 1.6,液体,精度优于0.1%
  检测方法  楔形池样品折射法(无需示踪粒子)
  检测角度  0°(CMOS检测器)
  样品量  380 μL – 1 ml

9、系统参数

  温控范围  -15°C - 120°C
  冷凝控制  干燥空气或者氮气
  激光器  高性能固体激光器,波长671nm(不同波长激光器可选)
  相关器  快、中、慢多模式,最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
  检测器  APD+PD+CMOS
  光强控制  0.0001% -100%,自动或手动控制
  * 依赖于样品和选件



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